一、儀器簡介：

建筑工程質量檢測器組校準裝置是我公司嚴格按照《JF1110-2003建筑工程質量檢測器組校準規(guī)范》研發(fā)生產的，用來檢測建筑工程質量檢測器組中垂直檢測尺，內外直角檢測尺、楔形塞尺的示值誤差的專用校準裝置。該裝置的垂直主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖，高精度測微頭，能夠調整水平的花崗巖底座組成。

二、儀器組成：

該校準裝置由XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置和XR-300Z型內外直角檢測尺校準裝置兩臺儀器組成。XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置用于檢測垂直檢測尺的示值誤差，XR-300Z型內外直角尺校準裝置用于檢測內外直角檢測尺和楔形塞尺的示值誤差。

三、工作原理：

建筑工程質量檢測器組校準裝置采用比較法測量，由數(shù)顯測微頭行進距離與回轉軸軸線、導軸軸線間距離L1之比組成標準角β1(sinβ1= L1/R)，比較測量垂直度檢測尺轉角β2(sinβ2=L2/R)的示值誤差,其原理是采用數(shù)顯測微頭螺旋副等進傳動原理，使螺桿的回轉運動變?yōu)橹本€運動，將垂直度檢測尺的角位移轉化為直線位移，用線值表示示值誤差ΔL=L2-L1。

測量原理：L1：數(shù)顯測微頭行進距離mm；L2：垂直度檢測尺示值mm；β1：標準角；β2：垂直度檢測尺轉角；R：回轉軸軸線、導軸軸線間距離mm；ΔL：示值誤差：mm。

三、XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置的結構圖和技術參數(shù)：

1、結構圖如下圖所示：

2、技術參數(shù)：

（1）型號：XR-2000C型；

（2）高度：1980±1mm；

（3）數(shù)顯測微頭分辨力：0.001mm/m；

（4）數(shù)顯測微頭行程：0-50mm；

（5）數(shù)顯測微頭誤差：±0.004mm。

四、XR-300Z型內外直角尺校準裝置的結構圖和技術參數(shù)：

1、結構圖如下圖所示：

2、技術參數(shù)：

（1）型號：XR-300Z；

（2）高度：300mm；

（3）寬度：250mm；

（4）厚度：50mm；

（5）工作面的相互垂直度：0.01mm/300；

（6）工作面的平面度：0.005mm；

（7）數(shù)顯測微頭分辨力：0.001mm/m；

（8）數(shù)顯測微頭行程：0-25mm；

（9）數(shù)顯測微頭誤差：±0.004mm；

（10）花崗巖平板的平面度：0.005mm（800X300X150）；

（11）花崗巖外形尺寸：（800X300X150）mm。

五、儀器配置：

1、XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置：1臺（含第三方計量證書）；

2、XR-300Z型內外直角檢測尺校準裝置（含楔形塞尺檢測支架）：1臺（含第三方計量證書）；

3、水平調整支腳：1套；

4、使用說明書：1份；

5、出廠合格證書：1份；

6、產品保修卡：1份；

7、產品裝箱清單：1份。